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广州全弘贸易有限公司

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USVIS   360-780nm

文章来源:admin 更新时间:2017-06-19 11-07-38

產品規格 

型號Ultra Scan PRO

光學系統D/8°總合穿透

D/0°標準穿透

分光接收器《雙層》精密光柵分光系統

256點矩陣式矽光接收器

積分球∅6"積分球

球體內採用Spectraflect專利塗佈,不變黃、抗剝落

光譜範圍360...780nm

解析度<2nm、帶寬10nm

光度範圍0...150%

再現性∆E*<0.03 CIE L*a*b* @標準白板

測口直徑∅25(17)/9.5mm(大/小測口)

大/小測口自動變焦鏡頭

標準光源氙氣閃弧燈(CIE D65)

鏡面反射自動保留、自動消除

UV控制400nm濾鏡、UV自動控制、UV自動校正

測量室/口大型穿透測量室、三面啓閉滑門 35.6x16.5x10.2cm

樣本視窗附照明裝置

連接埠RS232C

電源供應100-240VAC

產品簡介 

  UltraScan VIS 全段光譜 360...780nm 、可見光譜符合 CIE 標準、波長解析度 <2nm ,憑著極其優異的長期穩定性以及儀器間相異性 (Inter-Instrument Agreement) ,最細微的差異都能被仔細分辨出來!適合精密色彩研究、反射/ 穿透、穿透霧度之測量。大/ 小測口 (LAV/SAV) 鏡頭自動切換,確保對焦位置,避免「迷光效應」。具備鏡面反應自動保留/ 消除功能,紫外線 (UV) 控制可連續控制、追蹤、回報,並具自動校正功能,濾鏡可將多重波長螢光干擾因素降至最低。

產品特色 

適合固體/ 液體、透明/ 半透明/ 不透明, 反射色彩, 穿透色彩, 穿透霧度, 符合CIE, ASTM, USP 標準規範

6" 積分球 SpectraflectTM 特殊塗佈處理

光譜 360...780nm 可見光譜符合CIE 標準

雙口徑反射測口 (LAV/SAV) 具自動對焦

穿透測量室可容納大型樣本,超大滑門可由左/右/上、三方同時開啟

鏡面反應消除/保留功能,可測量光澤度

無風扇、無空氣蕊,噪音低,不需保養

EasyMatch QC 色差記錄符合 21 CFR 11

符合 ASTM, ISO, CIE, DIN, JIS 測量規範

多功能夾頭可固定各種尺寸或不規則形狀樣本,快速釋放鈕方便迅速更換或調整位置,另有多種選購附件

本機配備、選用附件極為豐富,歡迎下載電子型錄、或連結原廠網站索取詳細資料

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